JEM-ARM200F NEOARM Microscopio electrónico analítico de resolución atómica

"NEOARM" / JEM-ARM200F viene con la exclusiva pistola de emisión de campo frío de JEOL (Cold FEG) y un nuevo corrector de Cs (ASCOR) que compensa las aberraciones de orden superior. La combinación de un FEG frío y ASCOR permite obtener imágenes de resolución atómica con un voltaje de aceleración no solo de 200 kV, sino también con un voltaje bajo de 30 kV. "NEOARM" también está equipado con un sistema automático de corrección de aberraciones que incorpora el nuevo algoritmo de corrección de aberraciones de JEOL para la corrección automática rápida y precisa de aberraciones. Este sistema permite obtener imágenes de resolución atómica de alto rendimiento. Además, un nuevo detector STEM que proporciona un contraste mejorado de los elementos de luz se incorpora como una unidad estándar. La mejora del contraste de los elementos de luz se logra mediante una nueva técnica de imágenes STEM (e-ABF: ABF mejorado), que facilita la observación de materiales de elementos de luz, incluso con voltajes de aceleración bajos. La sala de microscopios está separada de la sala de operaciones para responder a una operación remota. Además, se adoptan los nuevos colores conceptuales de los productos JEOL "blanco puro" y "plata JEOL", lo que lleva a un sofisticado diseño exterior de "NEOARM".

Caracteristicas:
Corrector de aberración esférica (Cs) ASCOR (Advanced STEM Corrector)
Software de corrección de aberración automática JEOL COSMO ™ ?Corrector System Module?
Nuevo sistema de detección ABF (Annular Bright Field)
Detector de visión perfecta
Sistema de cámara de visión

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